M-3 手持式四探針電阻測試儀
上海雙旭M-3 手持式四探針電阻測試儀
產品概述
上海雙旭M-3為手持式四探針電阻測試儀，采用經典四探針法測量原理，可快速測定半導體材料、薄膜、金屬薄層等低阻及中阻樣品的電阻率或方塊電阻。體積小巧，便于現(xiàn)場攜帶與在線檢測，適用于研發(fā)、生產及質量控制場景。
產品參數(shù)
- 測量方法：四探針直線排列（Van der Pauw兼容）
- 測量范圍：電阻率 10⁻⁴ ~ 10³ Ω·cm；方塊電阻 10⁻³ ~ 10⁵ Ω/□
- 分辨率：0.01 mΩ·cm（電阻率）；0.1 mΩ/□（方塊電阻）
- 精度：±1%讀數(shù) ±2字（標準條件下）
- 探針間距：固定 1.0 mm（可定制其他間距）
- 測試電流：0.1 μA ~ 100 mA，自動或手動調節(jié)
- 顯示方式：LCD數(shù)字顯示，帶背光
- 電源：內置可充電鋰電池，DC 3.7V，續(xù)航≥8小時
- 外形尺寸：約180×80×35 mm
- 重量：約300 g（含電池）
- 工作環(huán)境：溫度 0~40℃，濕度 ≤80% RH，無強磁場干擾
- 數(shù)據(jù)存儲：可存儲≥200組測試數(shù)據(jù)，支持USB導出
功能特點
具備自動電流換向消除熱電勢誤差、自動溫度補償、一鍵測試及平均值計算功能。探針頭耐磨硬質合金材質，接觸穩(wěn)定，適合多次反復測量。支持多種樣品幾何形狀換算，適配晶圓、片材、涂層等不同形態(tài)。
使用注意事項
- 測量前確保探針與被測面垂直且均勻接觸，避免傾斜導致數(shù)據(jù)偏差。
- 樣品表面需平整、清潔、無氧化層和油污，必要時用溶劑擦拭并干燥。
- 避免在強電磁場或高頻干擾環(huán)境下使用，防止讀數(shù)跳動。
- 不可在潮濕環(huán)境或液體中操作，防止儀器進水損壞電路。
- 測試電流不得超過樣品承受極限，防止過熱損傷樣品或探針。
- 長時間不使用應關閉電源并存放在干燥處，定期充電維護電池。
- 探針磨損嚴重時應及時更換，保證接觸電阻一致性。
- 更換電池或維修須由專業(yè)人員操作，禁止私自拆解殼體。
- 高阻值樣品測量時，注意屏蔽環(huán)境漏電流影響，必要時使用屏蔽夾具。
- 使用前校準零點和參考樣，確保測量準確性。
|
