LEEB500 超聲波探傷儀
上海雙旭 LEEB500 超聲波探傷儀 — 產(chǎn)品介紹
LEEB500 是上海雙旭電子有限公司推出的便攜式數(shù)字超聲波探傷儀，適用于金屬、復(fù)合材料等內(nèi)部缺陷檢測(cè)，廣泛用于機(jī)械制造、壓力容器、鐵路、航空航天、特種設(shè)備檢測(cè)等領(lǐng)域。儀器采用高性能數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)，具備高靈敏度、寬頻帶及多種探傷模式，支持實(shí)時(shí)波形顯示與數(shù)據(jù)記錄。
產(chǎn)品參數(shù)
- 檢測(cè)范圍：0～9999mm（鋼縱波）
- 工作頻率：0.5～15MHz，分多檔可調(diào)
- 增益范圍：0～110dB，步進(jìn)0.1/1/2/6dB可選
- 聲速范圍：1000～15000m/s，連續(xù)可調(diào)
- 探頭接口：BNC/Q9通用接口，兼容單晶、雙晶、直探頭、斜探頭
- 掃描方式：A型顯示（射頻/檢波），支持全屏/局部擴(kuò)展
- 檢測(cè)靈敏度余量：≥60dB（2.5MHz Φ20）
- 分辨力：≥30dB
- 動(dòng)態(tài)范圍：≥30dB
- 垂直線性誤差：≤3%
- 水平線性誤差：≤0.5%
- 顯示屏：5.7英寸TFT彩色液晶，分辨率640×480
- 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：內(nèi)置存儲(chǔ)≥1000幅A掃波形及參數(shù)，支持USB導(dǎo)出
- 電源：可充電鋰電池，連續(xù)工作時(shí)間≥8小時(shí)
- 工作環(huán)境：溫度 -10℃～50℃，濕度 ≤90%RH（無(wú)結(jié)露）
- 尺寸/重量：約220×150×50mm，約1.2kg（含電池）
- 防護(hù)等級(jí)：IP54（防塵防濺水）
功能特點(diǎn)
具備DAC曲線制作與修正、AVG曲線自動(dòng)生成、缺陷定位定量評(píng)估；支持閘門(mén)報(bào)警（進(jìn)波/失波/峰值）、凍結(jié)/回放、峰值記憶；可設(shè)置材料聲速、零點(diǎn)校準(zhǔn)、K值測(cè)量；內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)試塊參數(shù)庫(kù)，一鍵調(diào)用；提供峰值搜索、缺陷深度/當(dāng)量/位置計(jì)算；支持波形對(duì)比分析，方便復(fù)檢比對(duì)。
使用注意事項(xiàng)
- 儀器須避免在強(qiáng)電磁干擾、高溫、高濕或腐蝕性氣體環(huán)境長(zhǎng)時(shí)間工作，防止電路及屏幕損壞。
- 使用前檢查探頭表面清潔度，耦合劑需均勻涂覆，確保探頭與工件良好接觸，避免空氣間隙導(dǎo)致信號(hào)丟失。
- 不同材質(zhì)及厚度需對(duì)應(yīng)設(shè)置正確聲速與探頭K值，零點(diǎn)校準(zhǔn)必須依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行，否則影響缺陷定位精度。
- 增益不宜長(zhǎng)期置于最大，防止放大器飽和引起波形失真；動(dòng)態(tài)范圍不足時(shí)應(yīng)調(diào)整濾波或抑制雜波。
- 電池電量低時(shí)應(yīng)及時(shí)充電，避免檢測(cè)中突然斷電造成數(shù)據(jù)丟失；長(zhǎng)期不用應(yīng)每3個(gè)月充放電一次保護(hù)電池壽命。
- 探頭連線避免彎折、拉扯與重壓，BNC接頭保持干燥潔凈，防止接觸不良引發(fā)信號(hào)不穩(wěn)。
- 現(xiàn)場(chǎng)搬運(yùn)須裝防震包或?qū)Ｓ孟�，避免跌落沖擊損傷內(nèi)部元件及屏幕。
- 禁止擅自拆解機(jī)殼，若出現(xiàn)故障應(yīng)由廠家授權(quán)人員維修，私自拆修將導(dǎo)致保修失效并可能引發(fā)安全隱患。
- 在易燃易爆環(huán)境使用時(shí)，應(yīng)確認(rèn)設(shè)備為防爆型或采取隔離措施，普通型LEEB500不得用于此類(lèi)場(chǎng)所。
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