CSK-IA/IIA/IIIA 超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊
上海雙旭CSK-IA/IIA/IIIA 超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊
產(chǎn)品概述：CSK系列標(biāo)準(zhǔn)試塊由上海雙旭電子有限公司生產(chǎn)，依據(jù)JB/T 10063、ASTM E164等國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造，用于校準(zhǔn)超聲波探傷儀、探頭性能測(cè)試及缺陷定量評(píng)估。CSK-IA為單晶直探頭校準(zhǔn)試塊，CSK-IIA適用于斜探頭折射角校準(zhǔn)與靈敏度測(cè)定，CSK-IIIA兼具直、斜探頭綜合測(cè)試功能，覆蓋焊縫、鍛件、鑄件等多種檢測(cè)場(chǎng)景。
產(chǎn)品參數(shù)
- 型號(hào)：CSK-IA / CSK-IIA / CSK-IIIA
- 材質(zhì)：20#鋼（符合GB/T 699或等效材料），經(jīng)淬火+回火處理，晶粒度6~8級(jí)，聲學(xué)均勻性好
- 尺寸規(guī)格：
- CSK-IA：長(zhǎng)度約300mm，寬度約25mm，厚度約25mm；含Φ50、Φ44、Φ40、Φ30、Φ20、Φ10、Φ5等平底孔與橫通孔組合
- CSK-IIA：長(zhǎng)度約200mm，寬度約25mm，厚度約25mm；含R50、R25圓弧面及不同深度的橫孔（如Φ1×6、Φ2×12等）
- CSK-IIIA：長(zhǎng)×寬×厚≈300×25×25mm；集成CSK-IA與CSK-IIA主要結(jié)構(gòu)，并增加多組不同角度斜探頭校準(zhǔn)槽
- 表面粗糙度：Ra≤3.2μm，平行度誤差≤0.05mm
- 聲速：(5920±30)m/s（縱波，20℃）
- 適用頻率范圍：0.5MHz~10MHz
- 參考標(biāo)準(zhǔn)：JB/T 10063、ASTM E164、EN 12223
主要功能
CSK-IA：直探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)、靈敏度調(diào)整、盲區(qū)測(cè)定、距離-幅度曲線制作。 CSK-IIA：斜探頭入射點(diǎn)、折射角測(cè)定、DAC曲線繪制、缺陷定位定量。 CSK-IIIA：綜合直/斜探頭性能驗(yàn)證，適用于復(fù)雜工件檢測(cè)系統(tǒng)整體校驗(yàn)。
使用注意事項(xiàng)
- 使用前檢查試塊表面無裂紋、銹蝕、劃痕，耦合面保持清潔，必要時(shí)用無水乙醇擦拭。
- 避免強(qiáng)力碰撞與跌落，防止幾何尺寸變化影響校準(zhǔn)精度。
- 校準(zhǔn)環(huán)境溫度為15℃~35℃，濕度≤80%，溫度變化率≤1℃/min，避免強(qiáng)磁場(chǎng)干擾。
- 每次使用后及時(shí)涂覆防銹油或置于干燥器內(nèi)保存，長(zhǎng)期存放應(yīng)定期檢查表面狀態(tài)。
- 校準(zhǔn)時(shí)應(yīng)保證耦合劑均勻、無氣泡，探頭移動(dòng)速度≤150mm/s，確保回波穩(wěn)定采集。
- 嚴(yán)禁在試塊上隨意鉆孔、切割或焊接，破壞原結(jié)構(gòu)將導(dǎo)致校準(zhǔn)數(shù)據(jù)失效。
- 不同型號(hào)試塊不可混用，須按檢測(cè)規(guī)程選用對(duì)應(yīng)規(guī)格進(jìn)行校準(zhǔn)。
- 建議每年進(jìn)行一次第三方計(jì)量檢定，確保試塊幾何與聲學(xué)參數(shù)符合標(biāo)準(zhǔn)。
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