ACQJ40X75-30B
上海雙旭ACQJ40X75-30B 產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品概述：上海雙旭ACQJ40X75-30B為高精度工業(yè)級精密測量儀器，主要用于幾何尺寸、形位公差及表面特征的自動化檢測，適用于機(jī)械制造、汽車零部件、模具加工等領(lǐng)域的高精度質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。
產(chǎn)品參數(shù)
- 型號：ACQJ40X75-30B
- 測量范圍（X/Y/Z）：400mm × 750mm × 300mm
- 分辨率：0.1μm（光學(xué)系統(tǒng)）/ 1μm（接觸測頭）
- 定位精度：±(1.5+L/300)μm（L為測量長度，單位mm）
- 重復(fù)精度：≤±0.8μm
- 最大承重：50kg
- 驅(qū)動方式：線性馬達(dá)閉環(huán)控制
- 導(dǎo)軌類型：高精度氣浮導(dǎo)軌
- 光柵尺：Renishaw高分辨率金屬反射式
- 探測系統(tǒng)：可切換光學(xué)非接觸測頭與接觸觸發(fā)測頭
- 掃描速度：最高200mm/s（光學(xué)模式）
- 電源要求：AC 220V ±10%，50/60Hz，功率≤1.5kW
- 外形尺寸（W×D×H）：1200mm × 1600mm × 2100mm
- 重量：約850kg
- 工作溫度：20℃±2℃，濕度45%~65%RH
- 數(shù)據(jù)接口：USB3.0、Ethernet、RS232
使用注意事項(xiàng)
- 安裝環(huán)境須遠(yuǎn)離振動源、強(qiáng)磁場及陽光直射，地面平整度誤差≤±0.5mm/m²，必要時(shí)配置獨(dú)立防震地基。
- 開機(jī)前檢查氣源壓力穩(wěn)定于0.5~0.7MPa，空氣潔凈度需達(dá)到ISO 8573-1:2010 [2級]以上，防止顆粒損傷導(dǎo)軌及光柵。
- 首次運(yùn)行或長時(shí)間停用后，應(yīng)執(zhí)行回零校準(zhǔn)與熱機(jī)程序，確保運(yùn)動軸定位精度。
- 更換或安裝測頭時(shí)務(wù)必?cái)嚯�，并確認(rèn)連接牢固，避免碰撞導(dǎo)致探針彎曲或光學(xué)鏡頭污染。
- 禁止在測量區(qū)域內(nèi)放置磁性物體或液體容器，防止干擾光柵信號或造成電氣短路。
- 光學(xué)測頭使用時(shí)避免強(qiáng)光直射鏡頭，定期用專用清潔工具清理光學(xué)窗口，保持透光率。
- 軟件操作須按規(guī)程進(jìn)行坐標(biāo)系建立與補(bǔ)償設(shè)置，未經(jīng)驗(yàn)證的參數(shù)不得用于正式檢測。
- 設(shè)備運(yùn)行中不得強(qiáng)行中斷或手動移動各軸，遇異常立即按下急停開關(guān)并排查故障。
- 長期停用時(shí)應(yīng)排空氣路冷凝水，關(guān)閉主電源并覆蓋防塵罩，每月至少通電一次進(jìn)行自檢維護(hù)。
- 非專業(yè)人員不得擅自拆卸機(jī)殼或調(diào)整內(nèi)部限位、驅(qū)動器參數(shù)，以免影響精度及保修資格。
功能與應(yīng)用
ACQJ40X75-30B支持二維輪廓掃描、三維點(diǎn)云采集、GD&T自動評價(jià)，兼容CAD比對分析�？稍趩未窝b夾中完成復(fù)雜零件的多特征快速測量，配合雙旭測量軟件實(shí)現(xiàn)報(bào)告自動生成及SPC統(tǒng)計(jì)分析，滿足批量生產(chǎn)在線檢測需求。 |
