涂層測厚儀分體CM8826FN
上海雙旭涂層測厚儀分體式CM8826FN
產(chǎn)品概述
CM8826FN是一款分體式涂層測厚儀，采用磁感應(yīng)和渦流原理，適用于精確測量鐵基和非鐵基基體上的涂層、鍍層厚度。分體式探頭設(shè)計便于復(fù)雜位置的測量。
產(chǎn)品參數(shù)
- 測量原理：磁感應(yīng)（Fe）/渦流（NFe）
- 測量范圍：0~1250μm（Fe），0~1250μm（NFe）
- 分辨率：0.1μm（0~99.9μm），1μm（100μm以上）
- 精度：±（1~3%讀數(shù)+1μm）
- 最小曲率：凸5mm/凹5mm
- 最小測量面積：直徑10mm
- 基體最小厚度：Fe 0.2mm，NFe 0.05mm
- 探頭類型：分體式，帶1.2米電纜
- 顯示：LCD液晶顯示屏
- 單位：μm/mil可選
- 校準(zhǔn)：零點(diǎn)校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)
- 數(shù)據(jù)存儲：通常具備分組存儲功能（具體容量需參考說明書）
- 電源：AA電池
- 工作溫度：0~40℃
使用注意事項
- 校準(zhǔn)：使用前必須在與待測工件相同材質(zhì)和粗糙度的無涂層基體上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，必要時使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行多點(diǎn)校準(zhǔn)。
- 基體影響：測量結(jié)果受基體材質(zhì)、厚度、形狀（曲率）及表面粗糙度影響。確保基體厚度和曲率滿足儀器要求。
- 表面清潔：測量前需清潔待測表面，去除油污、灰塵及雜質(zhì)，確保探頭與涂層接觸良好。
- 測量壓力：探頭應(yīng)垂直、平穩(wěn)地接觸被測表面，避免施加過大壓力或傾斜測量，防止探頭磨損和讀數(shù)誤差。
- 溫度穩(wěn)定性：避免在劇烈溫度變化的環(huán)境中使用，儀器和被測物應(yīng)處于相同穩(wěn)定溫度下。
- 磁場干擾：遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁場環(huán)境（如大型電機(jī)、變壓器），以免影響磁感應(yīng)探頭的測量精度。
- 探頭保護(hù)：分體探頭連接線避免過度彎折、拉扯。探頭測量面應(yīng)保持清潔，防止硬物刮傷。
- 電池狀態(tài)：低電量可能導(dǎo)致測量誤差或儀器故障，應(yīng)及時更換電池。
- 特殊涂層：對于非常薄（<3μm）或具有導(dǎo)電性（如銅、鋁涂層）的涂層，測量前需確認(rèn)儀器適用性并可能需特殊校準(zhǔn)。
典型應(yīng)用
廣泛應(yīng)用于金屬加工、電鍍、噴涂、化工、汽車、船舶、航空航天等行業(yè)，用于測量油漆層、塑料層、鍍鋅層、鍍鉻層、陽極氧化層等厚度。 |
