涂層測(cè)厚儀DFT-F
上海雙旭涂層測(cè)厚儀DFT-F產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)量原理：磁性感應(yīng)/渦流感應(yīng)（雙功能）
測(cè)量范圍：0~2000μm（具體取決于探頭配置）
分辨率：0.1μm / 1μm
測(cè)量精度：±(1~3%讀數(shù)+1μm)
探頭類(lèi)型：一體式或分體式可選
校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：通常具備基礎(chǔ)存儲(chǔ)功能（具體容量需確認(rèn)型號(hào)）
顯示屏幕：LCD數(shù)字顯示
電源：AA電池或可充電電池
工作溫度：通常為0℃~40℃
外殼材質(zhì)：工程塑料，防滑設(shè)計(jì)
使用注意事項(xiàng)
校準(zhǔn)要求：使用前必須在與待測(cè)基材相同的無(wú)涂層樣品上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，并在標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)厚度值。
基材影響：測(cè)量磁性涂層時(shí)，基材必須為導(dǎo)磁材料（如鋼、鐵）；測(cè)量非磁性涂層時(shí)，基材必須為非導(dǎo)磁金屬（如鋁、銅、不銹鋼）。
表面清潔：確保被測(cè)表面清潔，無(wú)灰塵、油污、銹跡或雜質(zhì)，以免影響測(cè)量精度。
測(cè)量壓力：探頭需垂直、平穩(wěn)接觸被測(cè)表面，避免傾斜或施加過(guò)大壓力。
曲率影響：測(cè)量彎曲或粗糙表面時(shí)，讀數(shù)可能產(chǎn)生偏差，建議在平面區(qū)域測(cè)量或使用專(zhuān)用曲面探頭。
溫度穩(wěn)定性：避免在極端溫度或劇烈溫度變化的環(huán)境中使用，以免影響電子元件穩(wěn)定性。
電池管理：長(zhǎng)期不使用時(shí)應(yīng)取出電池，防止電池漏液損壞儀器。
探頭保護(hù)：避免探頭受到撞擊或磨損，定期清潔探頭端面。
干擾規(guī)避：測(cè)量時(shí)遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)或強(qiáng)電場(chǎng)環(huán)境，防止讀數(shù)干擾。 |
