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上海雙旭涂層測厚儀CM8820介紹

CM8820是一款磁性、渦流兩用型涂層測厚儀，適用于測量鐵基及非鐵基體上的涂層厚度。

產品參數(shù)

• 測量原理：磁性感應（用于鐵基）/渦流感應（用于非鐵基）
• 測量范圍：0~1250μm（具體分段視探頭配置）
• 分辨率：0.1μm / 1μm
• 測量精度：±(1~3%H+1μm)，具體取決于量程與校準
• 最小曲率：凸5mm / 凹25mm
• 最小測量面積：直徑10mm
• 最薄基底厚度：鐵基0.2mm / 非鐵基0.05mm
• 校準方式：零點校準、多點校準、單點校準
• 數(shù)據(jù)存儲：通常具備分組存儲功能（具體存儲量依型號而定）
• 電源：AA電池
• 顯示：LCD數(shù)字顯示
• 工作溫度：0℃~40℃

使用注意事項

• 基體選擇：測量前必須正確選擇基體類型（鐵基或非鐵基），并使用對應模式。
• 校準：使用前必須在與待測工件相同材質、相同表面粗糙度的無涂層基體上進行校準，并定期復核。
• 表面清潔：確保被測表面清潔，無油污、灰塵、氧化皮及粗糙雜質，以免影響測量精度。
• 測量壓力：測量時探頭應垂直、平穩(wěn)地輕觸被測表面，避免施加過大壓力導致探頭磨損或讀數(shù)失真。
• 邊緣效應：避免在試件邊緣、彎角及內孔附近測量，一般需保持與邊緣距離大于探頭直徑。
• 基體厚度：確�；�體厚度超過“最小基底厚度”要求，否則測量結果可能不準確。
• 曲率影響：在小曲率表面測量時，讀數(shù)可能產生偏差，建議在相同曲率的無涂層基體上校準。
• 磁場干擾：測量鐵基材料時，應遠離強磁場環(huán)境，以免干擾磁性探頭工作。
• 探頭保護：避免探頭受到劇烈撞擊或磨損，使用后清潔探頭并妥善存放。
• 電池狀態(tài)：低電量可能導致測量誤差，應及時更換電池。