電腦膜層測厚儀MCH-2001J

上海雙旭電腦膜層測厚儀MCH-2001J

產(chǎn)品參數(shù)

• 測量原理：磁性感應(yīng)/渦流感應(yīng)（通常為雙功能一體機）
• 測量范圍：0~2000μm（具體視探頭和基材而定）
• 分辨率：0.1μm / 1μm（自動切換）
• 測量精度：±（1~3%讀數(shù)+1μm）
• 探頭類型：一體式或分體式磁性/渦流探頭
• 校準方式：零點校準、多點校準、單點校準
• 數(shù)據(jù)存儲：通常具備分組存儲功能，存儲容量數(shù)百至數(shù)千組
• 顯示：LCD液晶顯示屏，數(shù)字直讀
• 電源：AA電池或可充電電池
• 接口：可能配備RS232或USB數(shù)據(jù)輸出接口
• 工作溫度：0~40℃
• 主機尺寸：約160mm×82mm×30mm（僅供參考）

使用注意事項

• 校準：使用前必須在與待測工件相同材質(zhì)的無涂層基體上進行零點校準，并使用標準片進行量程校準。
• 基材影響：磁性法僅適用于磁性基體上的非磁性涂層；渦流法適用于非磁性金屬基體上的絕緣涂層。需根據(jù)基材正確選擇測量模式。
• 表面清潔：測量前需確保被測表面清潔，無油污、灰塵、銹跡及雜質(zhì)，以免影響測量精度。
• 曲率與厚度：基材的曲率、厚度及形狀會影響測量結(jié)果。對于小曲面、薄基材或邊緣測量，需特別謹慎，必要時使用專用探頭或輔助夾具。
• 測量壓力與探頭取向：測量時保持探頭垂直、平穩(wěn)接觸被測表面，避免晃動或傾斜。施加壓力需恒定，過大壓力可能導致探頭磨損或讀數(shù)失真。
• 溫度穩(wěn)定性：避免在劇烈溫度變化的環(huán)境中使用，儀器和試件應(yīng)處于相同穩(wěn)定溫度下，防止熱脹冷縮引入誤差。
• 電磁干擾：遠離強電磁場環(huán)境（如大型電機、變壓器），以防干擾儀器信號。
• 維護：定期清潔探頭測量面，避免磕碰、摔落。長期不用時應(yīng)取出電池。
• 標準片：標準片為精密基準，需妥善保管，防止劃傷、腐蝕和彎曲。

產(chǎn)品概述

MCH-2001J是一款智能化的便攜式涂層測厚儀，采用微處理器技術(shù)，集磁性法和渦流法于一體，適用于多種基材上的涂層厚度快速無損檢測。儀器操作簡便，數(shù)據(jù)穩(wěn)定，具備統(tǒng)計、存儲和輸出功能，廣泛應(yīng)用于制造業(yè)、電鍍、噴涂、質(zhì)檢等領(lǐng)域。

典型應(yīng)用

• 鋼鐵等磁性金屬基體上的油漆、塑料、搪瓷、鋅、鉻等非磁性涂層。
• 銅、鋁、不銹鋼等非磁性金屬基體上的陽極氧化層、油漆、陶瓷等絕緣涂層。

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