涂層測厚儀leeb25O
上海雙旭涂層測厚儀Leeb250
產品參數
測量原理：磁性感應/渦流感應（自動識別基體）
測量范圍：0~1250μm（具體取決于探頭和校準）
分辨率：0.1μm / 1μm（自動切換）
測量精度：±（1~3%讀數+1μm）
最小曲率：凸面5mm，凹面25mm
最小測量面積：直徑10mm
最薄基體：0.3mm（磁性法），0.05mm（渦流法）
校準方式：零點校準、兩點校準、多點校準
數據存儲：通常具備基礎數據存儲功能（具體容量需核實）
電源：2節(jié)AA電池
顯示：LCD數字顯示
工作溫度：0°C ~ 40°C
使用注意事項
校準：使用前必須在與待測工件相同材質和粗糙度的無涂層基體上進行校準，并定期核查。
基體影響：基體金屬的材質、厚度、曲率、表面粗糙度及機械加工方向（如軋制方向）會顯著影響測量精度。
表面清潔：確保被測表面清潔，無油污、灰塵、銹蝕及附著物。測量前需去除表面粗糙的氧化層。
探頭放置：測量時探頭需與被測面垂直、穩(wěn)定接觸，避免晃動或傾斜。施加壓力需恒定均勻。
邊緣效應：避免在靠近邊緣、內角或狹窄區(qū)域測量，應與邊界保持至少與探頭直徑相當的距離。
溫度：避免在極端溫度下使用，儀器與試件應處于相同溫度環(huán)境，防止熱脹冷縮導致誤差。
磁場干擾：遠離強電磁場環(huán)境（如大型電機、變壓器），以免干擾磁性測量原理。
維護：保持探頭測量面清潔、無磨損。長期不用時應取出電池。 |
