自動(dòng)轉(zhuǎn)塔維氏硬度計(jì) HV-30Z
上海雙旭自動(dòng)轉(zhuǎn)塔維氏硬度計(jì) HV-30Z
產(chǎn)品參數(shù)
- 型號(hào)：HV-30Z
- 試驗(yàn)力范圍：1kgf～30kgf（9.807N～294.2N）
- 力值精度：±1%
- 加載方式：閉環(huán)伺服控制，自動(dòng)加載、保荷、卸載
- 轉(zhuǎn)塔結(jié)構(gòu)：自動(dòng)轉(zhuǎn)塔，壓頭與物鏡切換自動(dòng)化
- 光學(xué)系統(tǒng)：物鏡10×、20×（可選40×），總放大倍數(shù)100×、200×（400×可選）
- 測(cè)量分辨率：0.01μm（數(shù)字測(cè)微目鏡或CCD圖像分析可選）
- 硬度測(cè)量范圍：HV1～HV30對(duì)應(yīng)各標(biāo)尺
- 壓痕測(cè)量方式：手動(dòng)目鏡測(cè)量 / 內(nèi)置CCD圖像采集與軟件自動(dòng)測(cè)量
- 顯示與控制：7寸彩色觸摸屏+PC端專業(yè)軟件（選配）
- 數(shù)據(jù)輸出：RS232/USB接口，可導(dǎo)出Excel/Word格式
- 工作臺(tái)行程：橫向50mm，縱向70mm；升降行程100mm
- 試件最大高度：180mm；中心距壓頭極限距離160mm
- 電源：AC220V±10%，50/60Hz，功耗≤150W
- 外形尺寸：約560×320×720mm
- 重量：約85kg
產(chǎn)品介紹
HV-30Z為上海雙旭電子有限公司推出的自動(dòng)轉(zhuǎn)塔式維氏硬度計(jì)，集成高精度力加載系統(tǒng)與自動(dòng)光學(xué)轉(zhuǎn)塔，適用于金屬及部分非金屬材料的維氏硬度測(cè)試。設(shè)備采用閉環(huán)伺服控制，實(shí)現(xiàn)加載、保荷、卸載全程自動(dòng)化，降低人為誤差。自動(dòng)轉(zhuǎn)塔可在壓頭與不同倍率物鏡間快速切換，提高測(cè)試效率。支持多種試驗(yàn)力覆蓋HV1至HV30范圍，滿足從薄材到粗晶材料的高精度硬度檢測(cè)需求。配備高分辨率光學(xué)系統(tǒng)和數(shù)字測(cè)微或CCD圖像處理功能，測(cè)量直觀且重復(fù)性好。觸摸屏人機(jī)界面配合可選PC軟件，可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、統(tǒng)計(jì)分析和報(bào)告輸出，適合實(shí)驗(yàn)室與生產(chǎn)線質(zhì)量控制。
使用注意事項(xiàng)
- 安裝環(huán)境需干燥無(wú)強(qiáng)電磁干擾，溫度15℃～35℃，濕度≤80%RH，避免陽(yáng)光直射和振動(dòng)源。
- 首次使用前必須按說(shuō)明書校準(zhǔn)力值與光學(xué)系統(tǒng)，確保壓頭垂直度與物鏡光軸同軸。
- 更換壓頭或物鏡前須關(guān)閉加載系統(tǒng)并斷電，防止誤觸造成損壞。
- 試臺(tái)表面須保持清潔，放置試樣時(shí)確保接觸面平整且與壓頭軸線垂直，避免傾斜導(dǎo)致壓痕畸變。
- 加載過(guò)程中禁止觸碰機(jī)臺(tái)或移動(dòng)試樣，保荷階段保持穩(wěn)定，勿受外部沖擊。
- 測(cè)量壓痕時(shí)注意區(qū)分主對(duì)角線方向，CCD測(cè)量應(yīng)保證圖像清晰且無(wú)反光干擾。
- 硬度塊校準(zhǔn)周期建議不超過(guò)6個(gè)月，長(zhǎng)期停用需定期通電驅(qū)潮。
- 不可在超出試驗(yàn)力范圍或試件厚度不足情況下強(qiáng)行測(cè)試，防止壓壞壓頭或試樣碎裂。
- 清潔光學(xué)部件用專用鏡頭紙或無(wú)水乙醇，禁用硬物刮擦鏡片。
- 出現(xiàn)異常噪音、位移不準(zhǔn)或數(shù)據(jù)顯示異常應(yīng)立即停機(jī)檢查，聯(lián)系廠家售后。
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