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儀表交易站點(diǎn) 上海雙旭電子有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品:扭矩測(cè)試儀廠家,數(shù)顯式推拉力計(jì)廠家,粗糙度儀廠家
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CSK-ICJ 超聲波探傷試塊 
產(chǎn)品名稱: CSK-ICJ 超聲波探傷試塊
產(chǎn)品型號(hào):
產(chǎn)品報(bào)價(jià): 0
 
   
 產(chǎn)品詳細(xì):

CSK-ICJ 超聲波探傷試塊

 

上海雙旭CSK-ICJ 超聲波探傷試塊

產(chǎn)品參數(shù)

  • 型號(hào):CSK-ICJ
  • 材質(zhì):鋁合金(6061-T6)或鋼(按訂貨要求)
  • 外形尺寸:約300mm×150mm×25mm(長(zhǎng)×寬×厚)
  • 參考反射體:橫孔、平底孔、V型槽、圓弧面等組合結(jié)構(gòu)
  • 橫孔直徑:Φ1mm、Φ2mm、Φ3mm(深度可調(diào)范圍0~50mm)
  • 平底孔直徑:Φ0.5mm、Φ1mm、Φ2mm(深度可調(diào)范圍0~40mm)
  • V型槽角度:60°、90°(槽深0.2~2mm可調(diào))
  • 圓弧面半徑:R10mm、R20mm、R30mm(用于曲面檢測(cè)校準(zhǔn))
  • 表面粗糙度:Ra≤1.6μm(保證聲耦合一致性)
  • 適用頻率范圍:0.5MHz~15MHz(覆蓋常規(guī)及高頻探傷儀)
  • 重量:約1.8kg

產(chǎn)品介紹

CSK-ICJ為上海雙旭電子有限公司研制的多功能標(biāo)準(zhǔn)超聲波探傷試塊,專用于超聲探傷系統(tǒng)的靈敏度校準(zhǔn)、缺陷定量評(píng)估及探頭性能測(cè)試。試塊集成多種典型人工反射體,可模擬焊縫根部未焊透、氣孔、夾渣、裂紋等缺陷聲學(xué)特征,適配接觸法、水浸法等多種檢測(cè)方式。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)兼顧平面與曲面檢測(cè)需求,適用于碳鋼、不銹鋼、鋁合金等不同材質(zhì)工件的探傷工藝驗(yàn)證與設(shè)備日常核查。

試塊采用高精度機(jī)械加工與熱處理穩(wěn)定化處理,確保反射體尺寸一致性與長(zhǎng)期穩(wěn)定性,表面經(jīng)陽(yáng)極氧化或鍍鉻防護(hù),抗腐蝕能力強(qiáng),使用壽命長(zhǎng)。廣泛應(yīng)用于特種設(shè)備檢驗(yàn)、鋼結(jié)構(gòu)制造、壓力容器、船舶建造、軌道交通等領(lǐng)域的無(wú)損檢測(cè)質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。

使用注意事項(xiàng)

  • 使用前檢查試塊表面無(wú)劃痕、凹坑及銹蝕,反射體邊緣完整無(wú)變形,必要時(shí)用放大鏡或光學(xué)投影儀復(fù)核尺寸。
  • 耦合劑須均勻涂抹,避免氣泡影響回波幅度;接觸法檢測(cè)時(shí)探頭與試塊應(yīng)保持恒定壓力,防止耦合狀態(tài)變化導(dǎo)致讀數(shù)漂移。
  • 不同頻率或晶片尺寸的探頭需對(duì)應(yīng)選取合適反射體進(jìn)行校準(zhǔn),避免頻率失配引起回波幅度誤差。
  • 橫孔、平底孔校準(zhǔn)缺陷當(dāng)量時(shí),應(yīng)保證聲束軸線垂直入射反射體端面,傾斜入射會(huì)顯著降低回波并引入定位誤差。
  • V型槽用于裂紋模擬時(shí),掃查方向應(yīng)平行于槽延伸方向,否則回波幅度下降明顯,不宜作為裂紋檢出靈敏度依據(jù)。
  • 試塊使用后及時(shí)清潔殘留耦合劑,鋁合金試塊避免接觸強(qiáng)酸強(qiáng)堿,鋼試塊防銹油封存以防氧化。
  • 不得對(duì)試塊進(jìn)行焊接、打磨、敲擊等破壞性操作,長(zhǎng)期存放應(yīng)置于干燥恒溫環(huán)境,避免劇烈溫差導(dǎo)致材料內(nèi)部應(yīng)力變化。
  • 定期進(jìn)行計(jì)量溯源,建議每12個(gè)月送有資質(zhì)機(jī)構(gòu)檢定一次,確保試塊反射體尺寸和聲學(xué)特性符合GB/T 11259、JB/T 10061等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。
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